「異物解析セミナー」の開催について【募集終了】

SEM・EDS・CPの基礎講座

（１）  SEM・EDSの基礎講座
日本電子株式会社　西日本ソリューションセンター　藤田　憲市氏

表面分析の入口と言えるSEMとEDSについて、原理及び用途を解説し、異物の解析事例等についてご紹介します。

（２）ED-XRFを用いた異物スクリーニング　~元素分析から異物同定へのアプローチ~
日本電子株式会社　SA事業U　SAアプリ　小野寺　浩氏

エネルギー分散型蛍光X線分析装置（ED-XRF）は、材料の構成元素を非破壊で短時間に測定できることから、様々な業界で異物のスクリーニングに利用されています。異物のような小さな試料の調製方法、またQbaseソフトを利用した異物の材質判定についてご紹介します。

（３）SEM-EDSを用いた自動異物分析
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 分析機器事業部
プロダクトマーケティンググループ　森田　博文氏

新ソフトウェアAZtec Featureは、反射電子像を用いた異物（粒子・介在物など）検出～EDS分析～レポート作成までを自動で行うことができるツールです。
最新のアルゴリズムを搭載することで煩雑な設定をする必要がなくなり、驚くほど簡単に素早くかつ自動で試料全体の異物分析を行うことができます。

• 参加申込書（Wordファイル）（37KB）
• 参加申込書（PDFファイル）(104KB)