「異物解析セミナー」の開催について【募集終了】

更新日:2015年10月5日

 この度、平成27年度異物解析講習会として、異物解析に関する講習会を下記の要領で開催することになりました。

  走査型電子顕微鏡(SEM)、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)、蛍光X線分析装置(XRF)などを駆使した異物解析の手法や、解析事例を中心にご紹介致します。

 ご多忙中とは存じますが、是非御参加くださいますようご案内申し上げます。

日時 平成27年9月8日(火) 13:30~16:00
場所 徳島県立工業技術センター 2F 講堂
内容

SEMEDSCPの基礎講座

(1)  SEMEDSの基礎講座
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター 藤田 憲市氏

表面分析の入口と言えるSEMEDSについて、原理及び用途を解説し、異物の解析事例等についてご紹介します。

(2)ED-XRFを用いた異物スクリーニング ~元素分析から異物同定へのアプローチ~
日本電子株式会社 SA事業U SAアプリ 小野寺 浩氏

エネルギー分散型蛍光X線分析装置(ED-XRF)は、材料の構成元素を非破壊で短時間に測定できることから、様々な業界で異物のスクリーニングに利用されています。異物のような小さな試料の調製方法、またQbaseソフトを利用した異物の材質判定についてご紹介します。

(3)SEM-EDSを用いた自動異物分析
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 分析機器事業部
プロダクトマーケティンググループ 森田 博文氏

新ソフトウェアAZtec Featureは、反射電子像を用いた異物(粒子・介在物など)検出~EDS分析~レポート作成までを自動で行うことができるツールです。
最新のアルゴリズムを搭載することで煩雑な設定をする必要がなくなり、驚くほど簡単に素早くかつ自動で試料全体の異物分析を行うことができます。

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お問い合わせ先

工業技術センター 材料技術担当 山下
電話:088-635-7903 FAX:088-669-4755
Eメール:yamashita@itc.pref.tokushima.jp


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