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備品の詳細

設備名
熱衝撃試験システム
型式
ES-106LH-R
メーカ
日立アプライアンス株式会社
分類
物性試験用
用途
電子部品・電子回路などの急激な温度変化に対する耐性を評価
特徴
・試料静止形、冷温風切換方式(2ゾーン・3ゾーン切換可能)
・温度サイクル性能
試料:プラスチックモールドIC5kg+搭載治具2.5kg
サイクル(5回):低温(-65℃:30分)→常温(5分)→高温(150℃)→常温(5分)
温度復帰時間:5分以内
仕様
試験温度範囲:低温試験(-70~0℃)、高温試験(60~200℃)
温度設定範囲:試験温度(上記と同じ)
予冷温度:-80℃~試験室温度低温設定値
予熱温度:試験室温度高温設定値~200℃
試験室内容量:100L(W470mm×D485mm×H460mm)
操作パネル:液晶表示対話型タッチパネル入力方式
設定分解能:温度(1℃)、時間(1分)
指示精度:温度(±0.8℃)、時間(±100ppm)
担当
電子・情報技術 TEL:088(635)7904
担当者
三好 英円  小川 仁
設置場所
電子機器試験室
設置年度
2013 (平成25) 年度
写真
備考 LEDトータルサポート拠点機能強化事業
その他


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