設備名	高感度X線CTスキャン
型式	nano3DX
メーカ	リガク
分類	計測用
用途	本装置は、各種材料（無機、有機、金属、コンポジット）を透過するX 線の強度（透過力）を利用して、材料内部の構造（欠陥、分布、配向性等）を高分解能で観察する装置です。
特徴	・試料内部を、サブミクロンレベルの高分解能で2D・3D 観察ができます。 ・樹脂中の炭素繊維など、軽元素素材の高コントラスト観察が可能です。 ・分解能を落とすことなく、広い視野で試料の観察ができます。
仕様	・光学系：疑似平行ビーム法 ・ターゲット4種類（加速電圧/管電流）： W（60 kV / 20 mA）、Mo（50 kV / 24 mA）、Cu（40 kV / 30 mA）、Cr（35 kV / 25 mA） ・設置可能試料サイズ：最大約φ15 mmまで ・撮影視野（レンズ3種類）：0.66×0.66 mm、2.66×2.66 mm、5.32×5.32 mm ・画素サイズ（ボクセル分解能）：0.325 μm ～ 10.4 μm（レンズ、撮影条件による）
担当	材料技術 TEL:088(635)7902，088(635)7903
担当者	伊東 紗希
設置場所	X線回折室
設置年度	2020 (令和2) 年度
写真
備考	令和２年度地方大学・地域産業創生交付金事業
その他

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